A Crack in Everything is een boek dat de doorbraken schetst die hebben geleid tot de ontdekking van zwartgaten, een wetenschappelijk raadsel dat mogelijk de antwoorden bevat op fundamentele vragen over het universum. Het onderzoekt wat ruimte en tijd is, waar het universum vandaan komt en hoe zwarte gaten een rol spelen in dit verhaal. De auteur Marcus Chown interviewt wetenschappers die belangrijke ontdekkingen deden en vertaalt complexe wetenschap naar begrijpelijke taal, zodat lezers een helder beeld krijgen van een van de grootste mysteries uit de moderne wetenschap.
Inhoud
A Crack in Everything onderzoekt de fascinerende doorbraken die hebben geleid tot de ontdekking van zwarte gaten, een wetenschappelijk enigmale dat mogelijk de antwoorden biedt op de meest fundamentele vragen over het universum. Een zwart gat is een regio in de ruimte waarin zwaartekracht zo sterk is dat niets, zelfs geen licht, kan ontsnappen. Dit ontstaat wanneer een ster aan het eind van zijn leven komt en sterk inkrimpt tot een oneindig dichtepunt. In 1916 werd dit fenomeen voorgesteld, wat zo tegenstrijdig was dat het door sommigen als onwaar werd beschouwd. Wetenschappers bewezen later het tegendeel. In 1971 ontdekten Paul Murdin en Louise Webster het eerste zwarte gat, Cygnus X-1. In de jaren negentig toonden astronomen met de Hubble Space Telescope aan dat zwarte gaten bestaan en dat superzware zwarte gaten aan het hart van bijna elke melkweg staan, ook in ons eigen. Het zou nog drie decennia duren voordat dit fenomeen volledig bevestigd werd. Op 10 april 2019 maakte een team van astronomen geschiedenis door de eerste afbeelding van een zwart gat te produceren. A Crack in Everything vertelt het verhaal van hoe zwarte gaten uit de kou naar de voorgrond zijn gekomen, in een vlot leesbaar verslag dat wetenschappelijke ontwikkelingen begrijpelijk maakt en een van de grote onvertelde verhalen uit de moderne wetenschap presenteert.
Specificaties
- 352 pagina’s
- Editie: Eerste editie
- Vorm: Paperback
- Uitgever: Apollo
Productspecificaties
| EAN |
|
|---|---|
| Maat |
|
Prijshistorie
Prijzen voor het laatst bijgewerkt op: