Analiza metryk projektowania obiektowego

Pomiar to proces okre¿lania wielko¿ci ilo¿ciowej i jako¿ci produktu. W dziedzinie in¿ynierii oprogramowania metryki s¿ wykorzystywane do celów ilo¿ciowych i jako¿ciowych. Analizuj¿c metryki, programista mo¿e skorygowä te obszary procesu tworzenia oprogramowania, które s¿ przyczyn¿ wad oprogramowania lub awarii produktu. Metryki oprogramowania s¿ szeroko stosowane w bran¿y oprogramowania do pomiaru z¿o¿ono¿ci, rozmiaru, modu¿owo¿ci, testowalno¿ci, u¿yteczno¿ci, niezawodno¿ci lub ¿atwo¿ci konserwacji fragmentu kodu ¿ród¿owego. Zaproponowano wiele ró¿nych metryk obiektowych do oceny projektu, jako¿ci, testowalno¿ci i ¿atwo¿ci konserwacji systemu obiektowego. Ró¿ni badacze skupiaj¿ si¿ na ró¿nych w¿äciwo¿ciach systemu obiektowego, takich jak enkapsulacja, dziedziczenie, z¿o¿ono¿¿ i polimorfizm. Projektowanie obiektowe staje si¿ coraz bardziej popularne w ¿rodowisku tworzenia oprogramowania, a metryki projektowania obiektowego s¿ istotn¿ cz¿¿ci¿ ¿rodowiska oprogramowania. Niniejsze badanie koncentruje si¿ na zestawie metryk obiektowych, które mog¿ by¿ wykorzystane do pomiaru jako¿ci projektu obiektowego, a tak¿e analizuje niektóre metryki CK przy u¿yciu narz¿dzia Understand 2.6.

Pagina's: 56, Paperback, Wydawnictwo Nasza Wiedza