Emisje optyczne z produktów natryskiwania metali Ni, Cr, Ti

Prace te s¿ prowadzone przez zespó¿ SIAM (Spectroscopy and Atomic Imaging of Materials) na Uniwersytecie Cadi Ayyad. Polegaj¿ one na wykorzystaniu techniki SIPS do badania luminescencji próbek Ni, Cr, Ti oraz tlenków NiO i Cr2O3. Cele s¿ bombardowane jonami Kr+ o energii 5 keV pod k¿tem 65° do normalnej, a badany zakres widmowy rozci¿ga si¿ od bliskiego UV do widzialnego. Przeprowadzone przez nas badania mo¿na podsumowä w nast¿puj¿cy sposób: * Demonstracja emisji optycznej z produktów rozpylania trzech metali: niklu, chromu i tytanu oraz ich tlenków, bombardowanych w pró¿ni (lepszej ni¿ 10-7 torr). * Interpretacja wp¿ywu tlenu na widma luminescencji. * Badanie i zastosowanie modelu wymiany elektronów. Oszacowanie powinowactwa elektronowego i przerwy pasmowej tlenków.