Emiss�es �pticas de produtos pulveriza��o metais Ni, Cr, Ti

Este trabalho está a ser realizado pela equipa SIAM (Spectroscopy and Atomic Imaging of Materials) da Universidade Cadi Ayyad. Trata-se de utilizar a técnica SIPS para estudar a luminescência de amostras de Ni, Cr, Ti e dos óxidos NiO e Cr2O3. Os alvos são bombardeados com iões Kr+ de 5 keV num ângulo de 65° em relação à normal, e a gama espetral explorada estende-se do UV próximo ao visível. Os estudos que efectuámos podem ser resumidos da seguinte forma: * Demonstração das emissões ópticas dos produtos de pulverização catódica de três metais: níquel, crómio e titânio e respectivos óxidos, bombardeados no vácuo (melhor que 10-7 torr). * Interpretação do efeito do oxigénio nos espectros de luminescência. * Exame e aplicação do modelo de troca de electrões. Estimativa da afinidade eletrónica e do "band gap" dos óxidos.