Emissions optiques des produits de pulv�risation m�taux Ni, Cr, Ti

Le présent travail est réalisé au sein de l'équipe SIAM (Spectroscopie & Imagerie Atomiques des Matériaux) de l'Université Cadi Ayyad. Il consiste à étudier, par la technique SIPS, la luminescence des échantillons de Ni, Cr, Ti et des oxydes NiO et Cr2O3. Les cibles sont bombardées par des ions Kr+ de 5 keV sous un angle de 65° par rapport à la normale et le domaine spectral exploré s'étend de l'UV proche jusqu'au visible. Les études que nous avons menées peuvent être résumées comme suit: * Mise en évidence des émissions optiques des produits de pulvérisation des trois métaux: nickel, chrome et titane et leurs oxydes, bombardés sous vide (meilleur que 10-7 torr). * Interprétation de l'effet de l'oxygène sur les spectres de luminescence. * Examen et application du modèle d'échange d'électrons. Estimation de l'affinité électronique et de la bande interdite (gap) des oxydes.