€ 60,87 Gratis verzending
Kontrola starzenia się tranzystorów mocy
Prijzen vanaf
60,87
Uitgelicht
|
|
60,87 |
Naar shop
|
|
61,99 |
Naar shop
|
| VERGELIJK ALLE AANBIEDERS (2) | ||
Beschrijving
Bol
Niniejsza ksi¿¿ka przedstawia dog¿¿bne badania eksperymentalne zachowania tranzystorów SiC JFET w wymagaj¿cych zastosowaniach lotniczych. Opisano kompletn¿ metodologi¿, w tym projekt zautomatyzowanego stanowiska testowego z wykorzystaniem LabView, testy wytrzymäo¿ciowe w celu okre¿lenia energii krytycznej oraz testy przyspieszonego starzenia w celu monitorowania zmian parametrów elektrycznych. Uzyskane wyniki podkre¿laj¿ wiarygodne wskäniki degradacji i otwieraj¿ interesuj¿ce perspektywy projektowania bardziej odpornych systemów elektronicznych w ekstremalnych ¿rodowiskach.
Vergelijk aanbieders (2)
Sorteren op:
€ 61,99 Gratis verzending
Winkels met andere maten
Beschrijving
(1)
Niniejsza ksi¿¿ka przedstawia dog¿¿bne badania eksperymentalne zachowania tranzystorów SiC JFET w wymagaj¿cych zastosowaniach lotniczych. Opisano kompletn¿ metodologi¿, w tym projekt zautomatyzowanego stanowiska testowego z wykorzystaniem LabView, testy wytrzymäo¿ciowe w celu okre¿lenia energii krytycznej oraz testy przyspieszonego starzenia w celu monitorowania zmian parametrów elektrycznych. Uzyskane wyniki podkre¿laj¿ wiarygodne wskäniki degradacji i otwieraj¿ interesuj¿ce perspektywy projektowania bardziej odpornych systemów elektronicznych w ekstremalnych ¿rodowiskach.
Productspecificaties
Prijshistorie
* Prijshistorie bevat geen data van Amazon.
Prijzen voor het laatst bijgewerkt op:
Gerelateerde resultaten
Uitgelichte Keuze
60,87
