Krystalograficzne metody określania struktury

Ta kompleksowa ksi¿¿ka oferuje dog¿¿bn¿ eksploracj¿ podstawowych metodologii dyfrakcji rentgenowskiej pojedynczych krysztäów (SCXRD) i krystalografii strukturalnej. Zapewnia jasn¿, krok po kroku ¿cie¿k¿ od pozyskania surowych danych dyfrakcyjnych do ostatecznej walidacji wyrafinowanych struktur krystalicznych. Pocz¿wszy od zasad gromadzenia danych i indeksowania odbi¿, ksi¿¿ka prowadzi czytelników przez zawi¿o¿ci obróbki danych, oceny jako¿ci i okre¿lania symetrii. Szczególny nacisk po¿o¿ono na najlepsze praktyki w zakresie stosowania analizy grup przestrzennych, udoskonalania modeli atomowych i zapewniania wiarygodno¿ci wyników strukturalnych.Zaprojektowany, aby s¿u¿y¿ zarówno jako narz¿dzie dydaktyczne, jak i praca referencyjna, ten tom jest przeznaczony dla absolwentów, naukowców i profesjonalistów w dziedzinie krystalografii, nauki o materiäach i nauk molekularnych.