Perte de masse des matériaux sensibles induite par le faisceau d'électrons

La microscopie électronique à transmission à balayage (STEM) à basse tension est une méthode très intéressante, mais peu connue, qui présente un grand potentiel pour l'examen des matériaux sensibles. Cet ouvrage se concentre sur la perte de masse du matériau provoquée par le faisceau d'électrons dans ce type de microscope. Les matériaux analysés étaient des milieux d'enrobage purs (Epon, Spurr, LR White) et un échantillon biologique - Euglena gracilis - y enrobé. Les échantillons de différentes épaisseurs ont été examinés à l'aide de différents réglages du microscope (tension d'accélération, dose totale, courant de sonde, nettoyage au plasma) et des modes d'imagerie STEM (champ clair, champ sombre). Les images recueillies, les algorithmes créés et les résultats obtenus sont largement discutés et étayés par des graphiques et des tableaux. Une proposition d'expérience idéale, fondée sur les données mesurées, est présentée. L'ouvrage contient une description des principes physiques du TEM, du SEM et du STEM, ainsi que de leur adéquation à l'observation d'échantillons sensibles aux électrons. L'interaction entre le faisceau d'électrons et l'échantillon est également abordée, tout comme la préparation des échantillons pour le STEM. Une brève description du traitement de base des images microscopiques, accompagnée d'une section consacrée à la comparaison quantitative des images STEM, est également incluse.

Pagina's: 128, Paperback, Editions Notre Savoir