SEMICONDUCTOR PROCESS VARIATION and Design ROBUSTNESS: Statistical Modeling Yield Prediction Tolerance Driven

Prijzen vanaf
13,11

Uitgelicht

VERGELIJK ALLE AANBIEDERS (2)

Beschrijving

Amazon Pagina's: 163, Paperback, Independently published
Description Beschrijving
Product Specifications Productspecificaties
Related Products Gerelateerde producten
?>
Next
Previous

Vergelijk aanbieders (2)

Shop
Prijs
Verzendkosten
Totale prijs
Amazon Logo
13,11
Gratis
13,11
Naar shop
Gratis Shipping Costs
Amazon Marketplace Logo
13,11
Gratis
13,11
Naar shop
Gratis Shipping Costs
Beschrijving (1)

Pagina's: 163, Paperback, Independently published

Productspecificaties

Merk Independently Published
EAN
  • 9798252208749

Prijzen voor het laatst bijgewerkt op:

Independently Published

SEMICONDUCTOR FABRICATION YIELD ENGINEERING: Process Control Statistical Methods and Defect Density Reduction

13,11
Vergelijk 2 shops 2 shops

A Novel LVSD Design and its Robustness to Process Variation Effects

69,90
Meer informatie Meer info
-12 %

Introduction To Semiconductor Device Yield Modeling

91,99
Meer informatie Meer info

Body composition prediction by multivariate statistical modeling

62,99
Meer informatie Meer info
Uitgelichte Keuze
13,11
Naar shop