Transmission Electron Microscopy: Diffraction, Imaging, and Spectrometry

Dit is een companion volume bij Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science van Williams en Carter. Het doel is onderwerpen uit te diepen die momenteel snel veranderen of meer ruimte vereisen dan in het hoofdwerk mogelijk is. Wereldberoemde onderzoekers hebben hoofdstukken bijgedragen in hun vakgebied, en de redactie zorgt voor een uniforme toon en aanpak. Het boek bevat een ongeëvenaarde verzameling kleurvlakken die de kwaliteit en variëteit van chemische data tonen die met moderne instrumenten kunnen worden verkregen, evenals belangrijke valkuilen die vermeden moeten worden. Net als bij het eerdere TEM-tekstwerk bevat elk hoofdstuk twee sets vragen: een voor zelfevaluatie en een tweede geschikter voor huiswerkopdrachten. De stijl volgt die van Williams & Carter, zelfs wanneer de stof complex wordt; het doel is de onderwerpen begrijpelijk te maken voor promovendi in het eerste jaar en anderen die in de Materials Science werken. De onderwerpen omvatten onder andere bronnen, in-situ experimenten, elektronendiffractie, Digital Micrograph, golven en holografie, focus-serie reconstructie en directe methoden, STEM en tomography, energy-filtered TEM (EFTEM) imaging en spectrum imaging. Het bereik en de diepte maken dit boek tot essentiële lectuur voor de beginnende microscopist en een sleutelreferentie voor practitioners in deze en verwante technieken.

Inhoud en doel

Dit boek breidt discussies uit over snelle ontwikkelingen en onderwerpen die extra verdieping vereisen ten opzichte van het hoofdwerk. Hoofdstukken bevatten bijdragen van vooraanstaande onderzoekers en volgen een uniforme toon, met uitgebreide kleurfiguren en valkuileninformatie. Net als het eerdere werk bevat elk hoofdstuk twee sets vragen voor zelfevaluatie en huiswerk, en streeft het ernaar onderwerpen toegankelijk te houden voor eerstejaars promovendi en professionals in Materials Science. Onderwerpen omvatten bronnen, in-situ experimenten, elektronendiffractie, Digital Micrograph, golven en holografie, focus-serie reconstructie en directe methoden, STEM en tomography, EFTEM-imaging en spectrum imaging.

Kenmerken

• Onderwerpen: bronnen en in-situ experimenten
• Elektronendiffractie, golven en holografie
• Digital Micrograph en EFTEM-imaging
• STEM, tomography en spectrum imaging
• Kleurfiguren en valkuileninformatie