TwardoŚĆ Projekcji W Nano I Mikrorangi

Monografia po¿wi¿cona jest badaniu metody twardo¿ci rzutowej materiäów, z naciskiem na zastosowanie wg¿¿bnika sferyczno-sto¿kowego w zakresie nano i mikro. Uwzgl¿dniono g¿ówne metody pomiaru twardo¿ci (Rockwella, Vickersa, Brinella, Martensa) oraz koncepcje twardo¿ci rzutowej, powierzchniowej i obj¿to¿ciowej. Szczegó¿owo opisano materiäy, sprz¿t i metody obliczania zredukowanej i niezredukowanej twardo¿ci rzutowej. Przedstawiono du¿¿ liczb¿ wykresów wg¿¿bie¿ dla ró¿nych próbek stali o ró¿nych twardo¿ciach i mikrostrukturach. Wykresy te s¿ uzyskiwane przez wg¿¿bianie standardowych próbek, które s¿ dostarczane z gwintownikami Brinella i s¿ powszechnie dost¿pne w wi¿kszo¿ci przedsi¿biorstw budowy maszyn. Autorzy zalecaj¿, aby wykresy te by¿y wykorzystywane przez innych badaczy, którzy nie s¿ w stanie stworzy¿ ich samodzielnie. Przeanalizowano wyniki badä eksperymentalnych, przeprowadzono obliczenia i wyci¿gni¿to wnioski dotycz¿ce mo¿liwo¿ci zastosowania metod twardo¿ci projekcyjnej w nowoczesnych badaniach materiäoznawczych.