Utrata masy materia¿ów wra¿liwych wywo¿ana dzia¿aniem wi¿zki elektronów: Mikroskopia transmisyjna skaningowa niskonapi¿ciowa (STEM)

Mikroskopia transmisyjna skaningowa niskonapi¿ciowa (STEM) to bardzo interesuj¿ca, cho¿ mäo znana metoda, która ma ogromny potencjä w badaniu materiäów wräliwych. Niniejsza ksi¿¿ka skupia si¿ na utracie masy materiäu spowodowanej dziäaniem wi¿zki elektronów w tym mikroskopie. Analizowanymi materiäami by¿y czyste ¿rodki do osadzania próbek (Epon, Spurr, LR White) oraz próbka biologiczna - Euglena gracilis osadzona w tych ¿rodkach. Próbki o ró¿nej grubo¿ci badano przy u¿yciu ró¿nych ustawie¿ mikroskopu (napi¿cie przyspieszaj¿ce, dawka cäkowita, pr¿d sondy, czyszczenie plazmowe) oraz trybów obrazowania STEM (jasne pole, ciemne pole). Zebrane obrazy, opracowane algorytmy i uzyskane wyniki zostäy szczegó¿owo omówione i poparte wykresami oraz tabelami. Przedstawiono propozycj¿ idealnego eksperymentu opartego na zmierzonych danych. W ksi¿¿ce zawarto opis zasad fizycznych dziäania mikroskopów TEM, SEM i STEM oraz ich przydatno¿ci do obserwacji próbek wräliwych na dziäanie elektronów. Omówiono równie¿ interakcj¿ mi¿dzy wi¿zk¿ elektronów a próbk¿, a tak¿e przygotowanie próbek do badania metod¿ STEM. Zamieszczono równie¿ krótki opis podstawowego przetwarzania obrazów mikroskopowych wraz z rozdziäem po¿wi¿conym ilo¿ciowemu porównaniu obrazów STEM.