VLSI Design and Test: 29th International Symposium, VDAT 2025, Chandigarh, India, August 79, Proceedings, Part I

Prijzen vanaf
106,99

Uitgelicht

VERGELIJK ALLE AANBIEDERS (2)

Beschrijving

VLSI Design and Test: 29th International Symposium, VDAT 2025, Chandigarh, India, August 79, Proceedings, Part I

Vergelijk aanbieders (2)

Shop
Prijs
Verzendkosten
Totale prijs
106,99
Gratis
106,99
Naar shop
Gratis Shipping Costs
106,99
Gratis
106,99
Naar shop
Gratis Shipping Costs
Beschrijving (0)

VLSI Design and Test: 29th International Symposium, VDAT 2025, Chandigarh, India, August 79, Proceedings, Part I


Productspecificaties

Merk Springer
EAN
  • 9783032263049

Uitgelichte Keuze
106,99
Naar shop